Probator Resistentiae Internae Accumulatoris
Instrumentum Mensurae Altae Praecisionis ad Resistentiam Internam Accumulatoris Examinandam
Specificationes:
Instrumentum Resistentiae Internae Accumulatoris HT-RT01
Informationes de Producto
| Nomen Marcae: | HeltecBMS |
| Certificatio: | DEEE |
| Origo: | Sina continentalis |
| Quantitas minima (MOQ): | 1 pes |
| Typus Batteriae: | LFP, NMC, LTO, cetera. |
Index Sarcinarum
1. HT-RT01*1
2. LCR Kelvin quattuor filorum fibula*1
3. Instrumentum probationis*1
4. Funiculus datorum USB*1
5. Funiculus potentiae * 1
6. Manuale*1
Emptionis Singula
- Missio a:
1. Societas/Officina in Sinis
2. Horrea in Civitatibus Foederatis Americae/Polonia/Russia/Hispania/Brasilia
Contacta Nosad descriptiones navis tractandas - Solutio: 100% TT commendatur.
- Reditus et Restitutiones: Reditus et restitutiones idoneus
Proprietates:
- Microchip Technology microplagula conversionis AD 18-bit altae resolutionis ad accuratam mensuram curandam;
- Duplex ostentatio quinque digitorum, maxima resolutio mensurae est 0.1μΩ/0.1mv, subtilis et alta praecisione;
- Commutatio automatica multi-unitatum, amplam varietatem necessitatum mensurae tegens;
- Iudicium et ostentatio polaritatis automaticae, non opus est polaritatem pilae distinguere;
- Specillum mensurae quattuor filorum Kelvin cum input aequilibratum, structura alta anti-interferentia;
- Methodus mensurae currentis AC 1KHZ, magna accuratio;
- Idoneum variis mensuris accumulatorum/fasciculorum infra 100V;
- Instructum terminali connexionis serialis computatralis, functione mensurae et analysis instrumenti amplificata.
Spatium Parametrorum Probationis
| Fons Potentiae | AC 110V/AC 220V | Praecisio | R: ±0.5%; V: ±0.5% |
| Currens Suppletionis | 50mA~100mA | Gradus Probationis | Quinquies /S |
| Parametrus Mensurae | ① ACR② DCV | Spatium | Commutatio Automatica |
| Spatium mensurae | R: 0~200Ω V: 0~±100VDC | Probulae Mensurae | Fibula LCR Kelvin quattuor filorum |
Conspectus
1. Hoc instrumentum microcomputatorium crystallinum singulare summae efficacitatis a ST Microelectronics importatum, cum microcomputatro conversionis A/D altae resolutionis Americano "Microchip" ut nucleo moderationis mensurae utitur, et accurata currentia positiva AC 1.000KHZ a circuitu phase-locked synthesizata ut fons signi mensurae in elemento probato applicatur. Signum tensionis debilis generatum ab amplificatore operationali altae praecisionis tractatur, et valor resistentiae internae correspondens per filtrum digitale intelligente analizatur. Denique in magno LCD matrice punctorum ostenditur.
2. Instrumentum commodis praecisionis altae, selectionis automaticae fasciculorum, discriminationis polaritatis automaticae, mensurae celeris et lati ambitus mensurae praeditum est.
3. Instrumentum tensionem et resistentiam internam pilae (fasciculi) simul metiri potest. Propter quattuor fila Kelviniana, interferentiam superimpositam resistentiae contactus mensurae et resistentiae filorum melius vitare potest, praeclaram efficaciam contra interferentiam externam assequitur, ita ut accuratiores mensurae eventus obtineantur.
4. Instrumentum functionem communicationis serialis cum computatro habet, et analysin numericam mensurarum multiplicium ope computatri perficere potest.
5. Instrumentum aptum est ad accuratam mensuram resistentiae internae AC variarum sarcinarum accumulatorum (0 ~ 100V), praesertim ad resistentiam internam humilem accumulatorum magnae capacitatis.
6. Instrumentum idoneum est ad investigationem et progressionem fasciculorum accumulatorum, ad artem productionis, et ad examinationem accumulatorum in arte qualitatis.
Ambitus Usus
1. Resistentiam internam et tensionem lithii ternarii, lithii ferrophosphatis, plumbi acidi, lithii ionis, lithii polymeri, alcalini, pilarum siccarum, nickel-metalli hydridi, nickel-cadmii, et pilarum globulorum, etc. metiri potest. Omnes genera pilarum celeriter examinare et comparare et efficaciam pilarum detegere.
2. Investigatio et progressio (R&D) necnon probationes qualitatis pro fabricatoribus accumulatorum lithii, accumulatorum niccoli, accumulatorum lithii polymericorum mollium fasciculorum et fasciculorum accumulatorum. Probationes qualitatis et sustentationis accumulatorum emptorum pro tabernis.
Video
Petitio Pretii:
Iacoba:jacqueline@heltec-bms.com/ +86 185 8375 6538
Nancy:nancy@heltec-bms.com/ +86 184 8223 7713
