Pugna Interna Repugnantia Tester
Pugna Internum Repugnantia Tester High Precision Mensuring Instrument
Formularium:
HT-RT01 Pugna Interna Repugnantia Instrumenti
Product Information
| Nomen notam: | HeltecBMS |
| Certification: | WEEE |
| Origin: | Sina continentis |
| MOQ: | 1 pc* |
| Type altilium: | LFP, NMC, LTO, etc. |
Stipare List
1. HT-RT01*1
2. LCR Kelvin 4-fibulae filum* 1
3. Test fixture * 1
4. USB data cable * 1
5. Power copia funis * 1
6. Manual* 1
Purchase Details
- Shipping From:
1. Company / Factory in Sina
2. Apothecae in United States/Polonia/Russia/Hispania/Brasilia
Contact Usshipping singula adferens mandata - Payment: 100% TT is recommended
- Redit & Refunds: New redit et refunds
Features:
- Microchip Technologia summus resolutio 18-bit AD conversionem chip est ut mensurae accuratae curet;
- Ostentatio duplicata 5 digiti, supremus valor mensurae solutionis est 0.1μΩ/0.1mv, finis et summa praecisio;
- Automatic multi-unitas mutandi, amplis mensurarum necessitates obtegens;
- Politica automatica iudicium et ostentationem, nullum opus est ut altilium verticitatem distinguat;
- Libratum input Kelvin quattuor-filum mensurae specillum, altum structurae anti-incursus;
- 1KHZ AC methodus mensurae currentis, altae accurationis;
- Apta variae pugnae/mensurae sarcinae infra 100V;
- Instructus ad nexum vide computatrum terminalem, instrumentum mensurationis et functionis analysin expansum.
Test Parameter Range
| Potestas Supple | AC110V/AC220V | Precision | R: ± 0.5%; V: ±0.5% |
| Supple Current | 50mA~100mA | Test Pace | 5 times / S |
| Mensuratio Parameter | ACR② DCV | Range | Automatic Switch |
| range mensuræ | R: 0~200ΩV: 0~±100VDC | Probes mensuræ | LCR Kelvin 4-fibulae filum |
Overview
1. Hoc instrumentum in summa operatione microcomputarii unius crystalli e ST Microelectronics importato, cum American "Microchip" alta resolutio A/D conversionem chip ut mensurae imperium nucleum adoptat, et praecisus 1.000KHZ AC positivus hodiernus summatim per Phase-clausum fasciculum adhibetur ut mensurae signum fonte applicatum in elemento probato. Gutta intentionis infirmae generatae signum est per exquisita amplificantis operativa processum, et respondentis internae resistentiae valor ab intelligentibus digitalis colum evolvitur. Denique in magna velum datorum matricis LCD manifestatur.
2. Instrumentum magnae subtilitatis commoda habet, fasciculi automatis selecti, discrimen latis verticitatis, fastigium mensurae et amplitudinis mensurae.
3. Instrumentum reluctationis et resistentiae internae pilae simul metiri potest. Propter in Kelvin genus quattuor-filum experimenti probe, superimpositam impedimentum mensurae resistentiae et resistentiae contactus filum vitare, animadvertere optimam anti-externam interventus effectus, ut accuratius mensurae eventus consequantur.
4. Instrumentum munus habet communicationis serialis cum PC, ac percipere potest analysin numeralem multarum mensurarum ope PC.
5. Instrumentum aptum ad accurate mensuras AC resistentiae internae variarum sarcinarum altilium (0~ 100V), praesertim ad resistentiam internam humilis summus capacitatis potentiae gravida.
6. Instrumentum aptum est ad investigationes sarcinas altilium et progressionem, machinationem productionem, et pugna protegendo in qualitate machinalis.
Usus harum
1. Metiri potest resistentiam internam et intentionem lithii ternarii, lithium phosphate ferreum, acidum plumbeum, lithium ion, lithium polymerum, alkaline, altilium aridam, hydride nickel-metal, nickel-cadmium, et pyga gravida, etc. Celeriter velamentum et omnia genera gravidarum parant et altilium effectus deprehendunt.
2. R&D et qualitas probandi gravida lithii fabricatores, gravida nickel, polymerus gravida lithium molle-pack et sarcinas altilium. Empti sunt gravida qualitas et sustentatio probatio thesaurorum.
Video
Petentibus Quotation:
lacobi:jacqueline@heltec-bms.com/ +86 185 8375 6538
Sucre:sucre@heltec-bms.com/ +86 136 8844 2313
Nancy:nancy@heltec-bms.com/ +86 184 8223 7713
